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Crédito: CC0 Dominio público
La microdifracción de rayos X de sincrotrón (μXRD) se puede aplicar para identificar impurezas cristalinas en minerales industriales.
Sin embargo, dos problemas principales están obstaculizando el desarrollo de la detección precisa de imágenes μXRD. Una es la falta de muestras industriales etiquetadas y la otra es la preocupación por la privacidad de los usuarios industriales de los servicios μXRD.
Recientemente, un grupo de investigación dirigido por el profesor Zhu Yongxin del Instituto de Investigación Avanzada de Shanghái (SARI) de la Academia de Ciencias de China ha propuesto un nuevo método de detección de imágenes μXRD basado en el aprendizaje federado (FL) para mejorar la detección y proteger la privacidad de los datos.
Los resultados relacionados fueron publicados en Transacciones IEEE sobre informática industrial.
Los investigadores utilizaron la información física específica del dominio para mejorar la precisión del aprendizaje federado. Luego, teniendo en cuenta las distribuciones de datos desequilibradas en el mundo real, adoptaron un esquema de muestreo con algoritmos de muestreo de clientes novedosos. Finalmente, se propuso un marco de capacitación híbrido para lidiar con el entorno de comunicación inestable entre clientes y servidores de FL.
Extensos experimentos demostraron que la precisión de los modelos de aprendizaje automático mejoró entre un 14 % y un 25 % y que las características de los datos se podían compartir entre diferentes usuarios o aplicaciones manteniendo la información comercialmente confidencial.
Este novedoso sistema con características de aprendizaje federado será útil para eliminar las barreras no técnicas en el intercambio de datos.
Investigadores de IA abordan el antiguo problema de ‘heterogeneidad de datos’ para el aprendizaje federado
Bo Chen et al, Federated Learning-Based Synchrotron X-ray Microdifraction Image Screening for Industry Materials, Transacciones IEEE sobre informática industrial (2022). DOI: 10.1109/TII.2022.3205372
Citación: Método de detección de imágenes de microdifracción de rayos X de sincrotrón basado en el aprendizaje federado (17 de octubre de 2022) recuperado el 17 de octubre de 2022 de https://techxplore.com/news/2022-10-synchrotron-x-ray-microdiffraction-image-screening. html
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